Hitachi High-Tech (Shanghai) Nemzetközi Kereskedelmi Co., Ltd.
Otthon>Termékek>Ultra magas felbontású Short Base Field sugárzó szkennelő elektronmikroszkóp SU8700
Céginformáció
  • Tranzakciós szint
    VIP tag
  • Kapcsolattartás
  • Telefon
  • Cím
    Pekingi fejlesztési épület, 18. emelet, 5. Keleti Samring északi út, Peking
Vegye fel a kapcsolatot most
Ultra magas felbontású Short Base Field sugárzó szkennelő elektronmikroszkóp SU8700
A gyors adatgyűjtési és adatfeldolgozási technológiák fejlődésével az elektronmikroszkóp olyan korba lépett, amely nemcsak az adatok minőségét, hanem
A termék adatai

Ultra magas felbontású Short Base Field sugárzó szkennelő elektronmikroszkóp SU8700

  • Tanácsadás
  • Nyomtatás

超高分辨肖特基场发射扫描电子显微镜SU8700

A gyors adatgyűjtési és adatfeldolgozási technológiák fejlődésével az elektronmikroszkóp olyan korba lépett, amely nemcsak az adatok minőségét, hanem a gyűjtési folyamatokat is figyelemmel veszi. Az SU8700, mint új korszak-orientált SEM, a Hitachi-elektroszkópok magas képminőségének és magas stabilitásának köszönhetően további funkciókat nyújt, beleértve az automatikus adatgyűjtést is.

*
A készülék fényképei tartalmazzák az opciókat.

  • Jellemzők

  • specifikációk

Jellemzők

Hatalmas felbontású megfigyelés és elemzés

A Hitachi nagy fényességű Short Base Field elektromos pisztolya egyidejűleg támogatja az ultra-magas felbontású megfigyelést és a gyors mikrosugárelemzést. A mintasztal lassítása nélkül a magas felbontású megfigyelés csak 0,1 kV alacsony gyorsulási feszültséggel lehetséges, így több alkalmazáshoz is alkalmazkodhat. Ugyanakkor számos új érzékelővel és egyéb széles választási lehetőséggel rendelkezik, hogy megfeleljen a nagyobb megfigyelési igényeknek.

Fejlett automatizálási funkciók*

Az EM Flow Creator lehetővé teszi az ügyfelek számára, hogy automatizált munkafolyamatokat hozzanak létre folyamatos képgyűjtéshez. Az EM Flow Creator a különböző SEM funkciókat grafikus modulként definiálja, mint például a nagyítási arány beállítása, a minta mozgása, a fókusztávolság és a fény-sötét kontraszt beállítása. A felhasználó egyszerű egérhúzással összeállíthatja ezeket a modulokat egy munkaprogramba logikus sorrendben. Hibázás és megerősítés után a program minden híváskor automatikusan kiváló minőségű, reprodukálható képadatokat kaphat.

Erős kijelző és interaktív funkciók

Natív támogatás kettős kijelzővel, amely rugalmas és hatékony működési területet biztosít.
A 6 csatornás megjelenítés és mentés egyidejűleg lehetővé teszi a gyors többjeles megfigyelést és gyűjtést, hogy több információt hozzon.
Egyszerű szkennelés támogatja a legfeljebb 40 960 x 30 720 ultra magas képpontot*

Nagy látóterület és nagy pixeles képalkotás

A bal oldali kép egy magas pixeles kép a látóterület körülbelül 120 μm, egy egyszeri szkennelés vett ultravékony szelet minta patkányok. Egyszerű számi nagyítással a sárga téglalapú terület képét a jobb képhez kapja. A jobb oldali kép 20-szor nagyobb, mint a bal oldali, és még mindig tisztán felismerheti az idegsejtek belső szerkezetét.
Az SU8600 és az SU8700 akár 40 960 x 30 720 pixelt is képes egyszeri szkennelésre.*

* Választható

specifikációk

Elektronikus optikai rendszerek Másodszoros elektronikus felbontás 0.8 nm@15 kV
0.9 nm@1 kV
Nagyosítás 20 ~ 2,000,000 x
Elektronikus fegyverek A Short Base kibocsátja az elektronikus forrást
Gyorsított feszültség 0.1 ~ 30 kV
Leszállási feszültség*1,*3 0.01 ~ 7 kV
Maximális áramlás 200 nA
Detektorok Szabványos detektorok Felső detektor (UD)
Alsó detektor (LD)
Kiválasztható detektorok*3 A tükörben lévő hátsó szétszóró elektronikus érzékelő (MD)
Félvezető hátsó szétszóró elektronikus detektor (PD-BSE)
Magas érzékenység alacsony vákuum érzékelő (UVD)
Szkennelési átviteli detektorok (STEM)
Kiemelt mellékletek*2 Röntgenergia spektrometer (EDS)
Elektron hátsó diffrakciós érzékelő (EBSD)
mintasztal Motorhajtótengely 5 tengelyes motorhajtás
Mozgatási tartomány  
X 0 ~ 110 mm
Y 0 ~ 110 mm
Z 1.5 ~ 40 mm
T -5 ~ 70°
Az R 360°
Minta szoba Mintaméret Maximális átmérő: 150 mm*4
Alacsony vákuum mód Vákuum tartomány 5 ~ 300 Pa
*1
Lassítási módban
*2
Konfigurálható detektorok
*3
Beállítások
*4
Ha nagyobb mintameret igényel, kérjük, vegye fel velünk a kapcsolatot.

Kapcsolódó termékkategóriák

  • Fókuszos ionsugárrendszer (FIB/FIB-SEM)
  • TEM/SEM minta előfeldolgozási berendezés
Online érdeklődés
  • Kapcsolatok
  • Társaság
  • Telefon
  • E-mail
  • WeChat
  • Ellenőrzési kód
  • Üzenet tartalma

Sikeres művelet!

Sikeres művelet!

Sikeres művelet!