Ultra magas felbontású Short Base Field sugárzó szkennelő elektronmikroszkóp SU8700
A gyors adatgyűjtési és adatfeldolgozási technológiák fejlődésével az elektronmikroszkóp olyan korba lépett, amely nemcsak az adatok minőségét, hanem a gyűjtési folyamatokat is figyelemmel veszi. Az SU8700, mint új korszak-orientált SEM, a Hitachi-elektroszkópok magas képminőségének és magas stabilitásának köszönhetően további funkciókat nyújt, beleértve az automatikus adatgyűjtést is.
- *
- A készülék fényképei tartalmazzák az opciókat.
-
Jellemzők
-
specifikációk
Jellemzők
Hatalmas felbontású megfigyelés és elemzés
A Hitachi nagy fényességű Short Base Field elektromos pisztolya egyidejűleg támogatja az ultra-magas felbontású megfigyelést és a gyors mikrosugárelemzést. A mintasztal lassítása nélkül a magas felbontású megfigyelés csak 0,1 kV alacsony gyorsulási feszültséggel lehetséges, így több alkalmazáshoz is alkalmazkodhat. Ugyanakkor számos új érzékelővel és egyéb széles választási lehetőséggel rendelkezik, hogy megfeleljen a nagyobb megfigyelési igényeknek.
Fejlett automatizálási funkciók*
Az EM Flow Creator lehetővé teszi az ügyfelek számára, hogy automatizált munkafolyamatokat hozzanak létre folyamatos képgyűjtéshez. Az EM Flow Creator a különböző SEM funkciókat grafikus modulként definiálja, mint például a nagyítási arány beállítása, a minta mozgása, a fókusztávolság és a fény-sötét kontraszt beállítása. A felhasználó egyszerű egérhúzással összeállíthatja ezeket a modulokat egy munkaprogramba logikus sorrendben. Hibázás és megerősítés után a program minden híváskor automatikusan kiváló minőségű, reprodukálható képadatokat kaphat.
Erős kijelző és interaktív funkciók
Natív támogatás kettős kijelzővel, amely rugalmas és hatékony működési területet biztosít.
A 6 csatornás megjelenítés és mentés egyidejűleg lehetővé teszi a gyors többjeles megfigyelést és gyűjtést, hogy több információt hozzon.
Egyszerű szkennelés támogatja a legfeljebb 40 960 x 30 720 ultra magas képpontot*
Nagy látóterület és nagy pixeles képalkotás
A bal oldali kép egy magas pixeles kép a látóterület körülbelül 120 μm, egy egyszeri szkennelés vett ultravékony szelet minta patkányok. Egyszerű számi nagyítással a sárga téglalapú terület képét a jobb képhez kapja. A jobb oldali kép 20-szor nagyobb, mint a bal oldali, és még mindig tisztán felismerheti az idegsejtek belső szerkezetét.
Az SU8600 és az SU8700 akár 40 960 x 30 720 pixelt is képes egyszeri szkennelésre.*
* Választható
specifikációk
Elektronikus optikai rendszerek | Másodszoros elektronikus felbontás | 0.8 nm@15 kV |
---|---|---|
0.9 nm@1 kV | ||
Nagyosítás | 20 ~ 2,000,000 x | |
Elektronikus fegyverek | A Short Base kibocsátja az elektronikus forrást | |
Gyorsított feszültség | 0.1 ~ 30 kV | |
Leszállási feszültség*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
Maximális áramlás | 200 nA | |
Detektorok | Szabványos detektorok | Felső detektor (UD) |
Alsó detektor (LD) | ||
Kiválasztható detektorok*3 | A tükörben lévő hátsó szétszóró elektronikus érzékelő (MD) | |
Félvezető hátsó szétszóró elektronikus detektor (PD-BSE) | ||
Magas érzékenység alacsony vákuum érzékelő (UVD) | ||
Szkennelési átviteli detektorok (STEM) | ||
Kiemelt mellékletek*2 | Röntgenergia spektrometer (EDS) | |
Elektron hátsó diffrakciós érzékelő (EBSD) | ||
mintasztal | Motorhajtótengely | 5 tengelyes motorhajtás |
Mozgatási tartomány | ||
X | 0 ~ 110 mm | |
Y | 0 ~ 110 mm | |
Z | 1.5 ~ 40 mm | |
T | -5 ~ 70° | |
Az R | 360° | |
Minta szoba | Mintaméret | Maximális átmérő: 150 mm*4 |
Alacsony vákuum mód | Vákuum tartomány | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- Lassítási módban
- *2
- Konfigurálható detektorok
- *3
- Beállítások
- *4
- Ha nagyobb mintameret igényel, kérjük, vegye fel velünk a kapcsolatot.
Kapcsolódó termékkategóriák
- Fókuszos ionsugárrendszer (FIB/FIB-SEM)
- TEM/SEM minta előfeldolgozási berendezés